C. G. Contreras Serrano, “Estimación bayesiana del parámetro de decepción en modelos de elección discreta bajo el paradigma RRM (Random Regret Minimization): aplicación al diseño de exhibiciones en grandes superficies”, RevComEst, vol. 18, no. 1, Aug. 2025, doi: 10.15332/23393076.11213.