Contreras Serrano, C. G. Estimación Bayesiana Del parámetro De decepción En Modelos De elección Discreta Bajo El Paradigma RRM (Random Regret Minimization): Aplicación Al diseño De Exhibiciones En Grandes Superficies. RevComEst 2025, 18 (1). https://doi.org/10.15332/23393076.11213.